
Urząd Patentów i Znaków Towarowych Stanów Zjednoczonych udzielił patentu na wynalazek XTPL "Method for repairing pattern defect on a substrate and apparatus therefor" – poinformowała spółka w komunikacie. Wymogiem formalnym uzyskania patentu jest wniesienie stosownych opłat. Czytaj dalej